Корольков ип: ИП Корольков Алексей Алексеевич, Москва (ИНН 771878729675), ИП Корольков А А с реквизитами и адресом на Rusprofile.ru

[Событие «1 / 2.p»] [Сайт «»] [Дата «1929»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0»] [Аннотатор «»] [SetUp «1»] [FEN «2b5 / P1n1Ppp1 / P2p4 / 3P2PK / 5k1P / 8 / 4B2P / 8 w — — 0 1»] [PlyCount «11»] [EventDate «1929»] [Источник «» ] [SourceDate «»] [WhiteTeam «Мат-Пат — Кавказ ты»] 1.g6 $ 1 (1. e8 = Q $ 143 Nxe8 2. a8 = Q Bf5 3. Qxe8 Bg6 #) 1 … f5 2. Bb5 $ 1 (2. a8 = Q $ 143 Ne8 $ 18 {(mat au suivant)}) 2. .. Ne8 $ 1 3. Bxe8 Bxa6 4. Bb5 $ 1 Bxb5 5. e8 = R $ 1 (5. e8 = Q Be2 + 6. Qxe2 $ 11) 5 … Bxe8 6. a8 = R $ 1 $ 18 (6. a8 = Q $ 143 Bb5 7. Qa2 Be2 + 8. Qxe2 $ 11) 1-0

[Событие «.c»] [Сайт «»] [Дата «1930»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0»] [Аннотатор «03» ] [SetUp «1»] [FEN «5k2 / 4bP1P / B7 / 5P2 / 1p5p / 4pPB1 / 1q6 / 4K1R1 w — — 0 1»] [PlyCount «15»] [Дата события «1930»] [Источник «»] [ SourceDate «»] 1.h8 = Q + Qxh8 2. Be5 $ 1 Qxe5 (2 … Qh7 $ 144 3. Bc4 $ 18) (2 … Qh6 $ 144 3. Rg8 + Kxf7 4. Bc4 + $ 18) (2 … Qh5 $ 144 3. Rg8 + Kxf7 4. Bc4 #) 3. Rg8 + Kxf7 4. Bc4 + Kf6 5. Rg6 + Kxf5 6. Bd3 + Kf4 7. Rg4 + Kxf3 8. Be2 # 1-0

[Событие «1 / 2.p»] [Сайт «»] [Дата «1937»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0»] [Аннотатор «06»] [SetUp «1»] [FEN «4N3 / 2PP2P1 / 6b1 / 2bN3k / 6p1 / p7 / K1pn4 / 8 w — — 0 1»] [PlyCount «15»] [Дата события «1937»] [Источник » «] [SourceDate» «] [WhiteTeam» 64 «] 1.Nf4 + {(Les Blancs sont sous la menace d’un mat en 2: …. Nc1 + Ka1 Nb3 #)} Kh6 2. g8 = N + Kh7 3. Ngf6 + Kh6 (3 … Kh8 $ 144 4. Nxg6 #) 4 .Nxg4 + Kh7 5. Nef6 + Kg7 6. Ne6 + Kf7 7. d8 = N + Ke7 8. c8 = N # 1-0

[Событие «1 / 2.hm»] [Сайт «»] [Дата «1973»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0»] [Аннотатор «24»] [Набор «1»] [FEN «1k6 / 6p1 / 1P6 / P1pR4 / 2p3r1 / pp1P4 / 6P1 / 1K6 w — — 0 1»] [PlyCount «16»] [Дата события «1973»] [Источник » «] [SourceDate» «] [Белая команда» Коммунист «] 1.a6 Rd4 2. dxc4 $ 1 (2. a7 + $ 143 Kb7 $ 1 3. dxc4 a2 + 4. Ka1 Ka8 $ 1 $ 19) 2 … Ka8 3. a7 a2 + (3 … Kb7 $ 144 4. Rxd4 cxd4 5. c5 d3 6. c6 + $ 18) 4. Ka1 $ 1 (4. Kb2 $ 143 Rxd5 5. cxd5 c4 6. d6 c3 + $ 19) 4 … g6 (4 … Rxd5 $ 144 5. cxd5 c4 6. d6 $ 18) 5. g3 $ 1 g5 6 .g4 Kb7 (6 … Rxd5 $ 144 7. cxd5 $ 18) 7. Rxd4 cxd4 8. c5 d3 $ 18 1-0

[Событие «1.hm СССР. Изучение состава, чемпион Шах»] [Сайт «»] [Дата «1948»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0» ] [Annotator «30»] [SetUp «1»] [FEN «5q2 / 1p1kp3 / 1P4p1 / 4B3 / 3N3K / 1B6 / 5P2 / 8 w — — 0 1»] [PlyCount «15»] [EventDate «1948»] [Источник «»] [Дата источника «»] 1.Be6 + Ke8 (1 … Kd8 $ 144 2. Nf5 $ 3 gxf5 3. Kg5 $ 3 f4 4. f3 Ke8 5. Kg6 Kd8 6. Kh7 $ 18) 2. Nf5 $ 1 gxf5 (2 … Kd8 $ 144 3. Kg5 Ke8 (3 … gxf5 $ 144 $ 1 4. f4 Ke8 5. Kg6 Kd8 6. Kh7 $ 18) 4. Ng7 + Kd8 5. Bc7 #) (2 … g5 + $ 144 3. Kg4 Kd8 4. Ng7 Qxf2 5. Bc7 #) 3. Kh5 $ 1 f4 4. f3 $ 1 Kd8 5. Kg5 $ 1 Ke8 6. Kg6 $ 1 Kd8 7. Kh7 $ 1 Qe8 (7 … Ke8 $ 144 8. Bg7 $ 18) 8. Bc7 # 1-0

[Событие «1.p Шахматы — СССР»] [Сайт «»] [Дата «1948»] [Раунд «»] [Белые «Владимир Корольков Либуркин = M»] [Черные «»] [Результат «1-0 «] [Annotator» ** «] [SetUp» 1 «] [FEN» 8 / 5k1N / 1p1r1p2 / 3P4 / 1p6 / 3p4 / 1K1P1P1R / 8 w — — 0 1 «] [PlyCount» 25 «] [EventDate» 1948 г. «] [Источник» «] [Дата источника» «] 1.Rh6 $ 1 (1. Rh4 $ 143 Kg7 2. Rxd3 Kxh7 $ 11) 1 … Kg7 2. Ng5 $ 1 (2. Rxf6 $ 143 Rxd5 3. Rxb6 Kxh7 4. Rxb4 Rc5 5. Ka3 $ 1 Rc2 6. Rb2 Rc1 7. Rb3 Rf1 8. Rxd3 Rxf2 $ 11) 2 … Rxd5 3. Rh7 + Kg6 4. Ne4 $ 1 f5 (4 … Rd4 $ 144 5. Re7 $ 18 f5 6. Re6 + Kh5 7. Nf6 + $ 18) (4 … Re5 $ 144 5. Rh5 $ 18) 5. Rh5 $ 1 Rd4 (5 … Ra5 $ 144 6. Ng3 Rc5 7. Kb3 Rc2 8. Rxf5 Rxd2 9. Rf6 + $ 1 Kg7 10. Rf4 $ 18) 6. Ng3 f4 7. Rh5 $ 1 Kg5 (7 .. . Rc4 $ 144 8. Rg4 + Kf7 9. Kb3 b5 10. Nf5 $ 18) 8. f3 $ 1 Kxh5 9. Nf5 + Kh4 10. Nxd4 Kg2 11. Kb3 Kf2 12. Kxb4 Ke1 13.Крc3 $ 18 1-0

[Событие «2-я премия Ачалгаздра Ко»] [Сайт «»] [Дата «1954»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0″] [SetUp » 1 «] [FEN» 6k1 / 8 / 3P4 / 4PPn1 / 8 / p7 / P5p1 / KN6 w — — 0 1 «] [PlyCount» 11 «] [Дата события» 1954 «] [Источник» «] [SourceDate» «] 1. d7 Nf7 2. e6 g1 = Q 3. exf7 + Kh7 4. f8 = N + Kg8 5. Ne6 Kf7 6. d8 = R 1-0

[Событие «1 Honorable Mention Ac»] [Сайт «»] [Дата «1954»] [Раунд «»] [Белый «Владимир Корольков»] [Черный «»] [Результат «1-0″] [SetUp » 1 «] [FEN» 8 / 5p2 / 6p1 / 2pP4 / 8 / 7k / 4P2p / 4n2K w — — 0 1 «] [PlyCount» 15 «] [Дата события» 1954 «] [Источник» «] [SourceDate» «] 1.d6 Ng2 2. d7 Nf4 3. d8 = Q Nh5 4. Qh8 c4 5. e4 c3 6. e5 c2 7. Qc8 + f5 8. exf6 + 1-0

(PDF) Лазерные записывающие системы и технологии для изготовления дифракционных оптических элементов с двойным и непрерывным рельефом

1. Дж. Х. Бердж, Л. Р. Деттманн, СК Вест: «Нулевые корректоры для параболоидальных зеркал диаметром 6,5 м / 1,25», в «Изготовление» и

«Тестирование асферов», «Тенденции OSA в оптике и фотонике». 24. С. 182-186, 1999.

2. Лукин А.В., Протасевич Д.В., М.Зу Инаменский. «Генерируемые компьютером оптические элементы голограммы с высокой пространственной частотой

», Тр. SPIE ,. 3317, pp.185-190, 1997.

3. J. Schwider, R. Burov. «Тестирование асферики с помощью вращательно-симметричных синтетических голограмм», Optica

Applicata, VI, 3, pp.83-88, 1976.

4. M. Haruna Et. Al. «Микро-линза Френеля с лазерной литографией», Прил. Опт. 29, pp.5120-5127, 1990.

5. W. Goltsos., S. Liu Полярный координатно-лазерный писатель для изготовления бинарной оптики // Proc.ШПИОН. 1990. 1211. P.137.

6. С. Огата, М. Тада, М. Йонеда. «Система электронной записи и ее применение для больших дифракционных оптических элементов с высокой плотностью

», Прил. Opt .. 33. pp. 2032-2038, 1994.

7. J.P. Bowen, R.L. Michaels, C.G. Блаф. «Генерация дифракционных элементов большого диаметра с лазерной диаграммой

поколения», Прил. Опт. 36. С. 8970-8980. 1997.

8. Коронкевич В.П., Полещук А.Г. «Устройство для записи синтезированных оптических элементов на движущемся носителе».

Материалы III Всесоюзной конференции по голографии, Ульяновск, 26-28 августа 1978 г., Ленинград, с.83-84,

1978.

9. В.П. Коронкевич, А.Г. Полещук, Е.Г. Чурин Ю. Юрлов. «Лазерная термохимическая технология для изготовления

дифракционных оптических элементов в пленках хрома», Квантовая электроника, N4, стр.755-765, 1985.

10. Дж. Гур. «Результаты испытаний лазерной записывающей системы CLWS-300c», «Дифракционная оптика» 97, Савонлина, Финляндия.EOS

Topical Meeting Digest Series: 12, pp.206-207, 1997.

11. В.П. Коронкевич, В.П. Корольков, А.Г. Полещук, «Лазерные технологии в дифракционной оптике», в ICONO ’98:

Нелинейные оптические явления и Когерентная оптика в информационных технологиях, Сергей С. Чесноков; Валерий П.

Кандидов; Николай Иванович Коротеев, Редакторы, Сборник. SPIE, 3733, стр. 417-427. 1999.

12. П. Пьеро, С. Синези, М. Рипетто, Г.В. Успленев. «Использование круговой лазерной пишущей системы для изготовления полутоновых масок DOE

на основе стеклянных пластин LDW», Компьютерная оптика, Москва — Самара, 17, с.85-93,1997, г.

13. Дж. Х. Бердж. «Применение компьютерной голограммы для интерферометрических измерений большой асферической оптики»,

Proc. SPIE ,. 2576, pp.258-269, 1995.

14. В.П. Корольков, Р. Шиманский, А.Г. Полещук, В.В. Черкашин, А.А. Харисов, Д. Денк, «Требования и подходы

к адаптации лазерных записывающих устройств для создания полутоновых изображений». маски »в кн.« Литография и микрообработка ».

« Методы изготовления оптических компонентов », Proc.SPIE, 4440, pp. 256-267, 2001.

15. В.В. Черкашин, Э. Чурин, В. Корольков, В. Коронкевич, А.А. Харисов, А.Г. Полещук, Ю. Burge,

«Оптимизация параметров обработки для термохимической записи ДОЭ на пленках хрома» в Diffractive and

Holographic Device Technologies and Applications IV, Proc. ШПИОН. 3010, pp.168–179, 1997.

16. М.Т. Гейл и К. Кноп, «Изготовление тонкой линзовой матрицы с помощью записи лазерного луча», в

Industrial Applications of Laser

Technology, W.Ф. Фэган, ред., Тр. SPIE, 398, 347-353, 1983.

17. М. Харуна, М. Такахаши, К. Вакахаяши и Х. Нисихара, «Микро-линзы Френеля с лазерной литографией»,

Appl. Opt., 29, 5120-5126, 1990.

18. M.T. Гейл, М. Росси, Х. Шютц, П. Эбертс, Х.П. Херциг и Д. Пронке «Дифракционные оптические элементы

с непрерывным рельефом для генерации двумерных массивов», Appl. Opt., 32, 2526-2533, 1993.

19. Х. Андерсон, М. Экберг, С. Хард, С. Якобссон, М.Ларссон и Т. Нильссон, «Одноуровневые фотоформы, многоуровневые

киноформ в кварце и фоторезисте: производство и оценка», Appl. Opt., 29, pp. 4259-4264, 1990.

20

C. Pruss, S. Reichelt, V.P. Корольков, В. Остен и Х. Дж. Тициани, «Повышение производительности CGH для оптических испытаний

», в «Оптические измерительные системы для промышленного контроля III», Вольфганг Остен, Малгожата Куявинска и

Кэтрин Креат, изд., Proc. Soc. Photo-Opt.Instum. Eng, 5144, 460-471 (2003).

21. Корольков В.П., Малышев А.И., Полещук А.Г. и др. «Изготовление полутоновых масок и дифракционных оптических элементов

со стеклом LDW», в «Методы литографии и микрообработки для изготовления оптических компонентов»,

Эрнст-Бернхард Клей; Ханс Петер Херциг, редакторы, Proc. SPIE, 4440, pp. 73-84, 2001.

22. J.-M. Асфур, А.Г. Полещук «Тестирование асферы интерферометром Физо на основе комбинированной компьютерной голограммы

», Дж.Опт. Soc. Являюсь. A. 23, pp.172-178, 2006.

Proc. SPIE Vol. 6732 67320X-10

А. Г. Лосев, Э. А. Мазепа, “Ограниченные решения уравнения Шредингера на римановых произведениях”, Алгебра и анализ, 13: 1 (2001), 84–110; Санкт-Петербургская математика. J., 13: 1 (2002), 57–73

ТЭМ

Посмотрите вниз на шкалу молекул и атомов с помощью ПЭМ

Краткий обзор ТЕМ

ТЕМ — это метод микроскопии, позволяющий получать изображения с очень высоким разрешением до нескольких ангстрем (~ 0.19 нм). Он отображает тонкие (100 нм) образцы через взаимодействие электронов, проходящих через образец. Обнаружение ряда результирующих вторичных сигналов позволяет изучать морфологические и химические свойства материалов в наномасштабе вплоть до уровней, близких к атомным.

Приложения

• Изображение в светлом поле
• Дифракция электронов
• Изображение в темном поле
• Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия (EDS)
• Спектроскопия потерь энергии электронов (EELS)
• Сканирующая трансмиссионная электронная спектроскопия (STEM)
• Нанотомография (3D-профилирование)

Изображения предоставлены Владимиром Корольковым Фотография и Lubrizol Ltd.

Как работает ТЕА?

Источник электронов в верхней части микроскопа испускает электроны, которые проходят через вакуум в колонке микроскопа. Электромагнитные линзы используются для фокусировки электронов в очень тонкий луч, который затем направляется через исследуемый образец. Электроны, проходящие через образец, затем попадают в детектор. Традиционная светопольная визуализация основана на том, что падающие электроны рассеиваются и исчезают из луча в зависимости от плотности состава и ориентации кристаллов образца.Интенсивность нерассеянных электронов приводит к «теневому изображению» образца, при этом различные части образца отображаются в различной темноте в зависимости от плотности. Вращая образец и делая несколько изображений при каждом повороте, также можно построить трехмерное представление образца (томография).

Кристаллическая структура образцов с регулярной атомной структурой (кристаллический материал) также может быть проанализирована с помощью дифракции электронов. Положительная интерференция в задней фокальной плоскости приводит к дискретным пятнам локализации электронов, которые затем могут быть визуализированы путем сопоставления задней фокальной плоскости с устройством формирования изображения.Затем дифракционные картины можно использовать для анализа кристаллической структуры образца.

Рентгеновское излучение, возникающее в результате взаимодействия первичного электронного пучка с образцом, также может быть обнаружено с помощью энергодисперсионного спектрометра (EDS) в ПЭМ. Поскольку результирующая энергия рентгеновского излучения является характеристикой атомной структуры элемента, из которого они произошли, полученные спектры можно использовать для идентификации составляющих элементов.

Также можно измерить потерю энергии из-за неупругого рассеяния электронов при пропускании образца (EELS).Эта информация может использоваться для определения элементного состава, химической связи, валентности и электронных свойств зоны проводимости.

Наши помещения ТЕА

Размещено в Исследовательском центре наномасштабов и микромасштабов (nmRC).

JEOL 2100F FEG-TEM

• Автоэмиссионная электронная пушка (FEG), обеспечивающая высокую яркость и высокую стабильность источника электронов для использования при 100 и 200 кВ.
• Точечное разрешение 0,19 нм позволяет проводить анализ материалов со сверхвысоким разрешением в нанометровом масштабе.
• Светопольный STEM-детектор.
• Детектор STEM с большим углом кольцевого темного поля (HAADF).
• Gatan Orius (4k x 2,6k) Камера с цифровым потоковым видео для высокого разрешения и телетрансляции.
• Gatan Tridiem Filter Spectrometer и 2K x 2K CCD-камера, сконфигурированная для использования при 100 и 200 кВ. Обеспечивает элементное отображение с помощью электронной спектроскопии потерь энергии (EELS) и TEM с фильтром энергии (EFTEM).
• Oxford Instruments 80 мм система X-Max для анализа энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS).
• Gatan Бериллиевый держатель с двойным наклоном, угол наклона по оси x и y до 35 градусов и низкоконтрастный фон для анализа EDS.
• Томограф для комнатной температуры: Gatan 916 Держатель для томографа для комнатной температуры с углом наклона до 80 градусов. Позволяет получать серии наклона для создания 3D-изображений.
• Крио-томография и криоперенос: Gatan 914 Система держателя крио-томографии, включая контроллер холода / крио-рабочую станцию.Держатель, охлаждаемый жидким азотом, позволяет исследовать термочувствительные и криогенно замороженные образцы.
• Электрический держатель. Аналитический держатель LN2 Gatan 636 DT с регулятором температуры с опцией столика EBIC (4 электрических соединения) плюс Smart EBIC. Позволяет связать электрические свойства образцов с микроструктурой — например, дефекты в полупроводниках.
• Нагревательный держатель. Gatan 652 Нагревательный держатель с двойным наклоном. Позволяет нагревать образцы до 1000 градусов в колонке ТЕМ.

JEOL 2100+ TEM

FEI Tecnai G12 12 Биотвин

• 120 кВ LaB ₆ ТЕМ для высококонтрастного изображения.
• Цифровой фотоаппарат Gatan SIS Megaview IV.
• Томографический компустаж для томографических характеристик.
• Крио-столик для низкотемпературного наблюдения за температурозависимыми или гидратированными образцами.
• Идеально подходит для слабоконтрастных, чувствительных к лучу биологических образцов или других мягких материалов, таких как полимеры.

JEOL 2000 FX ТЕМ

• Аналитическая ПЭМ 200 кВ.
• LaB ₆ или электронная пушка с вольфрамовой нитью.
• Низкофоновый держатель образцов с двойным наклоном и держатель образцов с одним наклоном для 2 образцов.
• Цифровая камера Orius для получения изображений высокого разрешения.
• Oxford Instruments XMax 80 INCA EDS system.
• Камера для фотопластин и столик RHEED для измерения дифракции поверхности.

Интересные публикации

• Ла Торре, А., дель Кармен Хименес-Лопес, М., Фэй, М. В., Лукас, К. Х., Браун, П. Д., и Хлобыстов, А. Н. (2015). Динамика наночастиц золота на углеродных наноструктурах под действием Ван-дер-Ваальса и электростатических взаимодействий. Малый, 11 (23), 2756-2761.
• Пачелла М., Батлер-Смит П. В., Аксинте Д. А. и Фэй М. В. (2014). Микро / нанометрические исследования FIB / TEM / EELS влияния лазерной абляции на структуру алмаз / связующее в поликристаллических алмазных композитах.Журнал технологий обработки материалов, 214 (5), 1153-1161.
• Ла Рокка, А., Кэмпбелл, Дж., Фэй, М. В., и Орхан, О. (2016). Трехмерная реконструкция объема сажи в масле с помощью электронной томографии: вводное исследование. Письма о трибологии, 61 (1), 1-11.
• Ла Рокка А., Ди Либерто Г., Шейлер П.Дж., Фэй М.В. (2013). Наноструктура частиц и агломератов сажи в масле автомобильного дизельного двигателя. Tribology International. 61, 80–87
• Ла Торре А., Хименес-Лопес М., Фэй М., Ранс Г., Соломонс В., Чемберлен Т., Браун П., Хлобыстов А. (2012). Сборка, рост и каталитическая активность наночастиц золота в полых углеродных нановолокнах. САУ Нано. 6 (3) 2000-2007
• Эдвардс Х.К., Фэй М.В., Андерсон С.И., Скотчфорд К.А., Грант Д.М. и Браун П.Д. (2009). Оценка методов ультрамикротомии, FIBSEM и криогенной FIBSEM для секционирования биологических клеток на титановых субстратах для исследования ПЭМ. Журнал микроскопии. 234 (1), 16-25
• Фэй М.В., Хан Й., Браун П.Д., Харрисон И., Хилтон К.П., Мандей А., Уоллис Д., Балмер Р.С., Урен М.Дж. и Мартин Т. (2008). Структурные и электрические характеристики омических контактов AuPtAlTi к AlGaN / GaN с различной температурой отжига и содержанием Al. Журнал прикладной физики. 103 (7), 074501
• Хан Я., Фэй М.В., Браун П.Д., Новиков С.В., Эдмондс К.В., Галлахер Б.Л., Кэмпион Р.П. и Фоксон С.Т. (2007). Микроструктурные характеристики низкотемпературного GaMnN, выращенного на подложках из GaAs (001) с помощью плазменного МПЭ полупроводника.Наука и технология. 22 (10), 1131-1139
• Фэй М.В., Хан Й., Браун П.Д., Эдмондс К.В., Ван К., Галлахер Б.Л., Кэмпион Р.П. и Фоксон С.Т. (2006). Исследование эпитаксиальных слоев Ga1-xMnxAs / (001) GaAs, выращенных методом низкотемпературной молекулярно-лучевой эпитаксии. Письма философского журнала. 86 (6), 395-401

США Гимнастика | Результаты Олимпийских игр среди мужчин и женщин